X射線衍射分析法是研究物質的物相和晶體結構的主要方法。當某物質(晶體或非晶體)進行衍射分析時,該物質被X射線照射產生不同程度的衍射現(xiàn)象,物質組成、晶型、分子內成鍵方式、分子的構型、構象等決定該物質產生*的衍射圖譜。X射線衍射方法具有不損傷樣品、無污染、快捷、測量精度高、能得到有關晶體完整性的大量信息等優(yōu)點。因此,X射線衍射分析法作為材料結構和成分分析的一種現(xiàn)代科學方法,已逐步在各學科研究和生產中廣泛應用。

　　X射線衍射分析儀的應用

　　1  物相鑒定

　　物相鑒定是指確定材料由哪些相組成和確定各組成相的含量,主要包括定性相分析和定量相分析。每種晶體由于其*的結構都具有與之相對應的X射線衍射特征譜,這是X射線衍射物相分析的依據(jù)。將待測樣品的衍射圖譜和各種已知單相標準物質的衍射圖譜對比,從而確定物質的相組成。確定相組成后,根據(jù)各相衍射峰的強度正比于該組分含量(需要做吸收校正者除外),就可對各種組分進行定量分析。

　　2  點陣參數(shù)的測定

　　點陣參數(shù)是物質的基本結構參數(shù),任何一種晶體物質在一定狀態(tài)下都有一定的點陣參數(shù)。測定點陣參數(shù)在研究固態(tài)相變、確定固溶體類型、測定固溶體溶解度曲線、測定熱膨脹系數(shù)等方面都得到了應用。點陣參數(shù)的測定是通過X射線衍射線位置的測定而獲得的,通過測定衍射花樣中每一條衍射線的位置均可得出一個點陣常數(shù)值。

　　3  微觀應力的測定

　　微觀應力是指由于形變、相變、多相物質的膨脹等因素引起的存在于材料內各晶粒之間或晶粒之中的微區(qū)應力。當一束X射線入射到具有微觀應力的樣品上時,由于微觀區(qū)域應力取向不同,各晶粒的晶面間距產生了不同的應變,即在某些晶粒中晶面間距擴張,而在另一些晶粒中晶面間距壓縮,結果使其衍射線并不像宏觀內應力所影響的那樣單一地向某一方向位移,而是在各方向上都平均地作了一些位移,總的效應是導致衍射線漫散寬化。材料的微觀殘余應力是引起衍射線線形寬化的主要原因,因此衍射線的半高寬即衍射線最大強度一半處的寬度是描述微觀殘余應力的基本參數(shù)。

　　4  納米材料粒徑的表征

　　納米材料的顆粒度與其性能密切相關。納米材料由于顆粒細小,極易形成團粒,采用通常的粒度分析儀往往會給出錯誤的數(shù)據(jù)。采用X射線衍射線線寬法(謝樂法)可以測定納米粒子的平均粒徑。

　　5 結晶度的測定

　　結晶度是影響材料性能的重要參數(shù)。在一些情況下,物質結晶相和非晶相的衍射圖譜往往會重疊。結晶度的測定主要是根據(jù)結晶相的衍射圖譜面積與非晶相圖譜面積的比,在測定時必須把晶相、非晶相及背景不相干散射分離開來。

　　6 晶體取向及織構的測定

　　晶體取向的測定又稱為單晶定向,就是找出晶體樣品中晶體學取向與樣品外坐標系的位向關系。雖然可以用光學方法等物理方法確定單晶取向,但X衍射法不僅可以準確地單晶定向,同時還能得到晶體內部微觀結構的信息。一般用勞埃法單晶定向,其根據(jù)是底片上勞埃斑點轉換的極射赤面投影與樣品外坐標軸的極射赤面投影之間的位置關系。透射勞埃法只適用于厚度小且吸收系數(shù)小的樣品,背射勞埃法就無需特別制備樣品,樣品厚度大小等也不受限制,因而多用此方法。

　　多晶材料中晶粒取向沿一定方位偏聚的現(xiàn)象稱為織構,常見的織構有絲織構和板織構兩種類型。為反映織構的概貌和確定織構指數(shù),有三種方法描述織構:極圖、反極圖和三維取向函數(shù),這三種方法適用于不同的情況。對于絲織構,要知道其極圖形式,只要求出其絲軸指數(shù)即可,照相法和衍射儀法是可用的方法。板織構的極點分布比較復雜,需要兩個指數(shù)來表示,且多用衍射儀進行測定。